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HTIM-3高低溫材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量半導體材料電阻和電阻率，可以分析被測樣品電阻和電阻率隨溫度、時間變化的曲線。目前主要針對圓片、方塊、長條等測試樣品進行測試，可以廣泛用于半導體材料硅（si）、鍺（ge）,化合物半導體材料砷化鎵(GaAs)、銻化銦（InSb），三元化合物半導體GaAsA

GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統運用三電極法設計原理測量，并參考美國A.S.T.M 標準,采用Labview系統開發具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。高低溫介電溫譜測量系統(-190℃-1000℃）電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全。

四通道同屏對比測試高溫介電溫譜測量系統運用三電極法設計原理測量，并參考美國 A.S.T.M 標準。采用Labview系統開發具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數等設置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。

TDNX-1200型金屬高溫電阻測量儀是一款專門針對于任意大小形狀及尺寸的金屬材料電阻測試高溫系統，常見的不銹鋼、鍍鋅鋼、銅合金、鎳合金等金屬材料均可測試。設備采用高精度的儀表，電阻精度量精確到 1uΩ，配備高精度標準電阻，數據溯源美國國家標準與技術研究院數據。是目前研究金屬材料高溫電阻變化的重要設備。 一、主要功能：

JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統是將焦耳熱閃蒸技術與冷熱臺相結合的極寬溫域、超快速度材料合成和調控系統，可有效調控合成材料的微觀形貌和結構。我們提供常溫的焦耳熱閃蒸系統，同時提供變溫下的焦耳熱閃蒸系統，方便了科研和教學工作。 二、產品主要用途：JTFS-3000型變溫焦耳熱閃蒸系統能夠提供大電壓、大電流、高溫和高能量輸出、高的升溫速率和冷卻速率、過冷度等，可在條件下超快合成和調控納米材料。

SMA-01型形狀記憶合金特性測試系統是一款高精度，觸摸屏控制的測試儀，采用精密步進電機控制拉力，位移，高精度的位移、應力測量，可以實時顯示電阻、溫度、位移、力值并存儲。該設備目前已逐步應用于航空航天飛行器、空間結構平臺、機器人、核反應堆、建筑及橋梁結構、海洋結構等方面，以實現機構的主被動變形控制、振動控制及在線監測結構內部的應力、應變、溫度、損傷等狀況。是目前科研和前沿領域的重要設備。