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  • JK-150BPE型半導體冷熱臺
    JK-150BPE型半導體冷熱臺

    JK-150BPE型半導體冷熱臺又稱帕爾貼冷熱臺,利用半導體的熱-電效應制冷,配合循環水散熱,在 -30~150℃的溫度范圍內進行控溫,實現樣品在開放式 / 氣密 / 真空環境下的變溫光學、電學等測試。

    更新時間:2024-10-21型號:瀏覽量:807
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  • JK-120BCH半導體冷熱臺
    JK-120BCH半導體冷熱臺

    半導體冷熱臺JK-120BCH采用半導體致冷,配合低溫循環液,實現從-40到180℃(選型)的控溫。 結構緊湊,適用于各種變溫測試 氣密腔室設計,可通保護氣體 多探針測試 上位機軟件控制 支持改動或定制

    更新時間:2024-10-21型號:瀏覽量:814
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  • JK-120BPE型半導體冷熱臺
    JK-120BPE型半導體冷熱臺

    半導體冷熱臺JK-120BPE、BPE100采用半導體冷熱控制,配合循環水散熱,實現從-25~120℃(選型)的控溫。無需液氮等致冷劑,具有無噪聲、無振動等特點。可以實現變溫光學測試,或者選配探針實現變溫電學測試。

    更新時間:2024-10-21型號:瀏覽量:513
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  • JK-600C型變溫電學探針冷熱臺
    JK-600C型變溫電學探針冷熱臺

    探針冷熱臺JK-600C是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-190~600℃范圍內精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。

    更新時間:2024-10-21型號:瀏覽量:446
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  • JK-600S高溫電學探針熱臺
    JK-600S高溫電學探針熱臺

    探針熱臺JK-600S是一款針對研究樣品變溫電學性能測試而設計的產品,可表征樣品電學性能隨溫度變化的特征。產品采用電阻加熱的方式,實現RT~600℃范圍內精準控制,與其他電學儀表(如電橋、源表、萬用表等)搭配集成,進行變溫原位測試。產品需要與溫度控制器配套使用,配套的上位機溫控軟件方便進行溫度設置及采集,提供的Labview Vis/C# SDK方便客戶進行定制化編程。

    更新時間:2024-10-21型號:瀏覽量:556
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  • JKZC-UTS150型動態應力應變特性測試冷熱臺
    JKZC-UTS150型動態應力應變特性測試冷熱臺

    JKZC-UTS150微型冷熱腔是一種適配μTS拉伸臺的產品,包含拉伸、壓縮、三點彎模塊。產品采用液氮致冷、電阻加熱的方式,實現-100~50℃ (高溫以實際數據為準)溫度下材料的動態應力應變特性測試。

    更新時間:2024-10-21型號:瀏覽量:922
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