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  • JKZC-BMZD01薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測(cè)圖
    JKZC-BMZD01薄膜介電常數(shù)(ε)及損耗(tgd)實(shí)測(cè)圖

    JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測(cè)試儀是一款針對(duì)薄膜測(cè)試的專用設(shè)備,測(cè)試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具,通過軟件可以采集到介損(tgd)及介電常數(shù)(ε)器件的介電性能測(cè)量與分析,可測(cè)試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),同時(shí)計(jì)算獲得反

    更新時(shí)間:2024-11-20型號(hào):JKZC-BMZD01瀏覽量:170
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  • PV520A-S超聲元件阻抗分析儀
    PV520A-S超聲元件阻抗分析儀

    PV520A-S超聲元件阻抗分析儀是由清華大學(xué)自動(dòng)化系和中國科學(xué)院聲學(xué)所共同研制開發(fā)的。測(cè)試如下以及十多個(gè)參數(shù):諧振頻率 Fs 、大電導(dǎo) Gmax 、帶F2-F1 、反諧振頻率 Fp 、品質(zhì)因數(shù) Qm 、自由電容 CT 、動(dòng)態(tài)電阻 R1 、動(dòng)態(tài)電感L1 、動(dòng)態(tài)電容 C1 、靜態(tài)電容 C0 、有效機(jī)電耦合系數(shù) Keff 。用于壓電超聲器件和設(shè)備的檢測(cè)綜合性解決方案.也是目前高校和生產(chǎn)單位的重要檢測(cè)儀

    更新時(shí)間:2024-11-19型號(hào):瀏覽量:173
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  • TSDC-100型高低溫?zé)岽碳る娏鳒y(cè)量儀
    TSDC-100型高低溫?zé)岽碳る娏鳒y(cè)量儀

    TSDC-100型高低溫?zé)岽碳る娏鳒y(cè)量儀,熱激勵(lì)去極化電流測(cè)量系(thermally stimulated depolar-ization currents,簡寫為TSDC或TSC)是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時(shí)所產(chǎn)生的短路電流。基本方法是將試樣夾在兩電極之間,加熱到一定溫度使樣品中的載流子激發(fā),然后施加一個(gè)直流的極化電壓,經(jīng)過一段時(shí)間使樣品充分極化,以便載流子向電極漂移或偶極子

    更新時(shí)間:2024-11-19型號(hào):瀏覽量:167
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  • JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測(cè)試儀
    JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測(cè)試儀

    JKZC-BMZD01型薄膜介電常數(shù)及損耗測(cè)試儀是一款針對(duì)薄膜測(cè)試的專用設(shè)備,測(cè)試薄膜介電常數(shù)及損耗需要特制的夾具,通過軟件可以采集到介損(tgd)及介電常數(shù)(ε)器件的介電性能測(cè)量與分析,可測(cè)試以下參數(shù)隨頻率(f)、電平(V)、偏壓(Vi)的變化規(guī)律:電容(C)、電感(L)、電阻(R)、電抗(X)、阻抗(Z)、相位角(Ø)、電導(dǎo)(B)、導(dǎo)納(Y)、損耗(D)、品質(zhì)因數(shù)(Q)等參數(shù),同時(shí)計(jì)算

    更新時(shí)間:2024-11-01型號(hào):瀏覽量:195
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